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激光測(cè)量設(shè)備

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太赫茲掃描干涉儀
太赫茲掃描干涉儀主要用于測(cè)量窄帶太赫茲輻射的波長和強(qiáng)度分布，同時(shí)也可用于脈沖和連續(xù)窄帶太赫茲輻射源。TSFPI由兩個(gè)半透明平行硅鏡組成，其中一個(gè)安裝在電機(jī)驅(qū)動(dòng)的線性致動(dòng)器上。

型號(hào)：廠商性質(zhì)：代理商
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KALEO法國Phasics多波長激光干涉儀模塊
KALEO套件多波長激光干涉儀模塊是用于光學(xué)計(jì)量的模塊化系統(tǒng)。它由多種相互兼容的模塊組合而成，可讓用戶搭建一個(gè)經(jīng)濟(jì)有效，體積緊湊且易于使用的完整光學(xué)測(cè)試系統(tǒng)。法國Phasics多波長激光干涉儀模塊

型號(hào)：KALEO 廠商性質(zhì)：代理商
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點(diǎn)衍射激光干涉儀
點(diǎn)衍射激光干涉儀: 絕對(duì)測(cè)量精度(Peak-to-valley): ± 0.6 nm (λ/1000) 分辨率(Peak-to-valley): 0.05 nm (λ/12000) 波前重復(fù)精度(RMS): 0.23 nm (λ/2800)

型號(hào)：廠商性質(zhì)：代理商
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半導(dǎo)體/薄膜無損檢測(cè)儀
半導(dǎo)體/薄膜無損檢測(cè)儀：半導(dǎo)體行業(yè)為我們周圍遇到的大多數(shù)電子設(shè)備提供了基本組件。它的制造需要在硅晶片上進(jìn)行多次薄膜沉積，。

型號(hào)：廠商性質(zhì)：代理商
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綜合電子測(cè)量分析儀（十二功能合一）
綜合電子測(cè)量分析儀（十二功能合一）可讓您觀察DC到250 MHz之間頻域中的輸入信號(hào)。在100Hz的zui小跨度下，同時(shí)查看分辨率低至1 Hz的兩個(gè)數(shù)據(jù)通道。頻譜分析儀還具有兩個(gè)集成的波形發(fā)生器，能夠產(chǎn)生高達(dá)250 MHz的正弦波。

型號(hào)：廠商性質(zhì)：代理商
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quDIS皮米精度位移激光干涉儀
昊量光電推出的皮米精度位移干涉測(cè)量儀quDIS是對(duì)納米級(jí)別的位移波動(dòng)進(jìn)行量測(cè)的理想儀器，基于其*的測(cè)量原理，相對(duì)距離的重復(fù)精度達(dá)到了50皮米。quDIS可同時(shí)支持三個(gè)測(cè)量通道，使其可以適用于任意的多軸測(cè)量中。quDIS在原理上同樣采用激光干涉法，不過與傳統(tǒng)激光干涉儀相比，其集成了法珀腔（Reference cavity）及飽和吸收氣室（GC）作為頻率校準(zhǔn)參考，通過皮米精度位移激光干涉儀

型號(hào)：quDIS 廠商性質(zhì)：代理商
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Xper WLI白光干涉儀
Xper WLI 是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析，并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù)，從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量的光學(xué)檢測(cè)儀器。白光干涉儀

型號(hào)：Xper WLI 廠商性質(zhì)：代理商
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干涉儀.邁克爾遜干涉儀 FTIR用
在一個(gè)臂上增加一個(gè)移動(dòng)反光鏡以完成干涉儀，并允許光路差在零OPD附近變化。堅(jiān)固的結(jié)構(gòu)和對(duì)準(zhǔn)的特點(diǎn)，意味著 INT 05 系列干涉儀很適合您更高精度的近紅外分析儀的應(yīng)用。邁克爾遜干涉儀 FTIR用

型號(hào)：干涉儀. 廠商性質(zhì)：代理商
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高精度位移測(cè)量儀-激光干涉儀
昊量光電推出的PICOSCALE位移測(cè)量儀產(chǎn)品是基于激光干涉方法設(shè)計(jì)的非接觸式位移和振動(dòng)測(cè)量設(shè)備。因?yàn)椴恍枰锢斫佑|，所以測(cè)量不會(huì)影響物體。這尤其適用于較小的物體，它們的動(dòng)力學(xué)很容易受到傳統(tǒng)測(cè)量探頭的影響。微位移測(cè)量儀廣泛應(yīng)用于定位技術(shù)中，可以在pm分辨率下位移跟蹤定位。高精度位移測(cè)量儀-激光干涉儀

型號(hào)：廠商性質(zhì)：代理商
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λ/1000超高精度激光干涉儀
愛沙尼亞Difrotec公司的激光干涉儀是市場(chǎng)上高精度干涉儀的*產(chǎn)品，測(cè)量精度可達(dá)0.6nm（λ/1000）. 其*產(chǎn)品D7激光干涉儀采用點(diǎn)衍射技術(shù)，主要用于高精度的表面（平面,球面,非球面,自由曲面）檢測(cè)及透射波前檢測(cè)。λ/1000超高精度激光干涉儀

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