新機來襲！德國非接觸方塊電阻測試儀樣機預約體驗

EddyCus® lab 2020 系列方塊電阻測試儀樣機是一款臺式實驗系統(tǒng)，它采用渦流技術，替代四探針方案，用于非接觸式單點測量導電薄膜的金屬層厚度和方塊電阻。它能夠快速、精確地測量zui大200 x 200 mm2（8 x 8英寸）樣品，并支持多種材料，包括薄金屬層、晶圓和導電聚合物等材料。

非接觸式單點方塊電阻測試儀提供了一種現(xiàn)代、無接觸的傳統(tǒng)四點探頭（4PP）及其他接觸式測量方法的替代方案。無需物理接觸，無需表面準備，且不受封裝或表面粗糙度的影響。

lab 2020 系列方塊電阻測試儀能夠測量多個參數(shù)。方塊電阻與金屬層厚度、發(fā)射率和電阻率相關。只要材料性質(zhì)明確，所有這些參數(shù)都可以高精度測量。

測量參數(shù)：

• 金屬厚度(nm, um)

• 方塊電阻(Ohm/sq)

• 發(fā)射率

• 電導率/電阻率(mOhm·cm)

• 電各向異性(%)

• 重量 (g/m’) 和烘干狀態(tài) (%)

• 滲透性(H/m) Beta

四探針傳統(tǒng)方法對比

對比維度	四探針測試	非接觸電渦流測試（EddyCus）
方案
接觸方式	觸點式測量，觸點質(zhì)量影響結(jié)果	非接觸式，實時無損
測量范圍	單點測量，部分支持Mapping成像	高分辨率Mapping成像，支持在線過程控制
對樣品影響	可能損壞敏感面，無法測量封裝后薄膜	對敏感膜無傷害或偽影，可測封裝膜層和多層膜系統(tǒng)
測量類型	僅支持單點方塊電阻測試	支持多種膜層與系統(tǒng)測量
探頭耐久性	探頭隨時間磨損	無磨損，使用壽命長
適用場景	適用于部分簡單薄膜測量	適用于觸摸型敏感層及多層膜系統(tǒng)等精密場景

Mapping圖

應用場景

導電薄膜

觸摸面板

導電紡織品

智能玻璃

電池電極

各類晶圓等

樣機設備適配參數(shù)

設備控制和軟件

上海昊量光電是德國EddyCus® lab 2020 系列的中國代理商，新引進的方塊電阻測試儀樣機現(xiàn)已開放預約！誠邀各領域研發(fā)、質(zhì)檢與生產(chǎn)單位參與體驗，親身體驗非接觸式測量的精準與高效。
體驗時間：即日起至2026年2月10日

體驗形式：寄樣測試（上門測試限部分地區(qū)）

更多詳情請聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián)系昊量光電

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